金相检验概念
金相检验主要是通过采用定量金相学原理,运用二维金相试样磨面或薄膜的金相显微组织的测量和计算来确定合金组织的三维空间形貌,从而建立合金成分、组织和性能间的定量关系
公司介绍:
杭州众享技术培训中心是中国机械工程学会理化检验分会理化检验人员技术培训点、中国计量测试学会职业能力评价分中心、中国机械工业职业技能鉴定指导中心能力评价考试站,定期举办金相检验、理化分析、计量员等培训课程。
聘请知名大学教授和企业高工上课。专门设立了金相分析、理化检验培训的专门实验室和培训教室。
秉着小班教学,理论和实际操作相结合的教学理念,着眼企业和检验人员的实际需要,对学员在平常工作中遇到的实际问题进行现场讲解,同时安排学员实际动手操作,纠正学员平时工作中一些不规范的操作。
机械制造中的质量控制(QA/QC)
对于金属制造行业来说 ,质量控制和质量保证同样重要。材料检验是确保金属制品使用合格材质的关键。如果使用不合格的金属合金,就会引起灾难性事故,给企业带来很大的经济损失,破坏企业的声誉,甚至导致人员伤亡。在质量管理体系和六西格玛方法论引起大家对优化质量控制的重视前,许多质量控制部门依靠不成、不严密的质检方法,或仅依靠合金成分的材料检验报告。
现在,有了赛默飞世尔尼通这个在手持式XRF技术上取得了很大进步的分析仪,质量控制以及检测人员可以在无损的条件下,每天精准地检测上千个金属合金样 品。事实上,即使是初级检验员也能很有把握地将大量的样品测出完整而精确的结果 。
Thermo scientific Niton XRF分析仪在典型情况下的测试时间是1~2秒,如果再延长几秒钟的测试时间,则可得出精确的实验室级别的测 试结果。无需制备样品,从金属细丝到成品焊点、螺钉、 金属板 ——这些样品都可以被赛默飞世尔尼通XRF分 析仪精确检测。
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
1.影响因素的有关说明
a、基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
b、基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。、湿度传感器探头、,、,、不锈钢电热管、PT100、传感器、,、,、铸铝加热器、,、加热圈、、、流体电磁阀
c、基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
d、边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e、曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f、试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
g、表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。
g、磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
h、附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
i、测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
j、测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。
2.使用仪器时应当遵守的规定
a、基体金属特性
对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
b、基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
c、边缘效应
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d、曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
e、读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
f、表面清洁度
测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质